在扫描电子显微镜（SEM）中，非导电样品通常会导致电荷堆积和图像模糊，因为电子束与样品相互作用导致电子的发射和堆积。为了在SEM中有效地观察非导电样品，有一些处理方法：

导电涂层：

一种常见的方法是在非导电样品表面涂覆一层导电性材料，如金属（例如金、铂）或碳。这样可以形成一个导电层，有助于消除电荷堆积，并提高电子信号的导电性能。这种导电涂层的方法称为金属涂层或碳涂层。

金属涂层（Sputter Coating）：

利用溅射镀金属的方法，将金属颗粒沉积在样品表面，形成导电层。这一过程通常称为金属涂层或溅射镀金属。

碳涂层（Carbon Coating）：

使用碳的蒸发或喷雾沉积的方法，将薄层的碳涂覆在样品表面。这种方法称为碳涂层。

金属导电粘贴剂：

在样品表面使用导电性粘贴剂，如导电胶，以提高电导性。

减小电子束能量：

减小电子束的能量，以减小与样品相互作用导致的电荷堆积。这可能会降低分辨率，但有助于避免过多的电子散射。

低真空模式：

在低真空模式下进行观察，减小气体分子与电子的碰撞，有助于减小电荷堆积的影响。

样品冷冻：

冷冻样品可以减缓电子与样品相互作用，减小电荷堆积的影响。这种方法通常在冷冻样品观察中使用。

样品预处理：

对样品进行预处理，如溅射清洁、等离子体清洗等，可以改善样品的导电性能。

在选择处理方法时，需要考虑样品的性质、观察的目的以及所需的分辨率等因素。不同的样品可能需要不同的处理方法，而一些方法可能更适用于特定类型的非导电样品。

ZEM18台式扫描电镜

以上就是泽攸科技小编分享的扫描电镜在非导电样品观察中的处理方法。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。