在扫描电子显微镜（SEM）成像过程中，样品可能出现伪影，这可能是由于电子束与样品相互作用引起的。以下是一些减少或避免伪影的方法：

导电涂层：

对非导电样品进行金属或碳的导电涂层，以提高样品的导电性，减少电荷积累和伪影的发生。

低电子束能量：

减小电子束的能量，可以减少电子与样品相互作用，减少电子的穿透深度，从而降低伪影的发生。

防静电设备：

使用防静电设备，如防静电笼、静电消除器等，以减小样品表面的电荷积累。

样品倾斜：

将样品倾斜一定角度，以改变电子束入射角度，减少电子的反射和散射，有助于减少伪影。

低真空模式：

在低真空或中真空模式下进行观察，减小气体与电子的碰撞，降低电荷的堆积和伪影的产生。

适当的焦点和亮度设置：

确保SEM的焦点和亮度设置适当，过高或过低的设置可能导致伪影。优化这些参数有助于获得清晰的图像。

使用透射电子显微镜（TEM）：

对于一些特定样品，可以考虑使用透射电子显微镜，因为在TEM中，电子通过样品而不是被样品散射，可以减小伪影的发生。

样品冷冻：

在观察过程中冷冻样品，可以减缓电子与样品相互作用，减小电荷堆积和伪影的发生。

样品处理和准备：

注意样品的处理和准备过程，确保样品表面的平整度和清洁度，以减小电子的反射和散射。

使用透明导电材料：

一些透明导电材料具有导电性且透明的性质，可以降低电子的反射和散射，减小伪影。

根据具体的样品和观察需求，可以结合使用上述方法，以尽量减少或避免在SEM成像中出现的伪影。

ZEM18台式扫描电镜

以上就是泽攸科技小编分享的如何在扫描电镜中避免或减少样品在成像过程中的伪影。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。