扫描电镜样品表面的 "热伪影" 现象通常是由于电子束的高能量导致的。这种现象可能会导致样品局部升温，影响成像和分析结果。以下是一些避免或减轻热伪影的方法：

低电子束能量：降低电子束的能量，特别是在高分辨率成像之前。降低电子束能量可以减少热伪影的潜在影响。

低电子束流密度：减小电子束的流密度，即每单位面积的电子束束流。这可以通过调整电子束的亮度或束团大小来实现。

快速扫描模式：使用快速扫描模式可以减少电子束停留在样品表面的时间，从而减小热伪影的可能性。

预冷样品：在进行高倍率扫描之前，可以将样品冷却到低温，以减少样品加热。

使用低温样品台：一些扫描电镜配备了低温样品台，可以在成像时保持样品低温，从而减轻热伪影。

样品制备：在进行扫描电镜成像前，确保样品的制备质量，避免过大的不均匀区域或凹陷，以减少电子束的局部能量损耗。

实验参数优化：根据特定的样品和实验需求，优化扫描电镜的参数，以找到高质量的成像条件。

热伪影是一个需要仔细处理的问题，因为它可能会导致图像质量下降和分析误差。通过合理选择实验参数和采取适当的预防措施，可以减小热伪影的影响。

ZEM20台式扫描电镜

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