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如何避免扫描电镜样品表面的“热伪影”现象

日期:2023-11-07

扫描电镜样品表面的 "热伪影" 现象通常是由于电子束的高能量导致的。这种现象可能会导致样品局部升温,影响成像和分析结果。以下是一些避免或减轻热伪影的方法:

低电子束能量:降低电子束的能量,特别是在高分辨率成像之前。降低电子束能量可以减少热伪影的潜在影响。

低电子束流密度:减小电子束的流密度,即每单位面积的电子束束流。这可以通过调整电子束的亮度或束团大小来实现。

快速扫描模式:使用快速扫描模式可以减少电子束停留在样品表面的时间,从而减小热伪影的可能性。

预冷样品:在进行高倍率扫描之前,可以将样品冷却到低温,以减少样品加热。

使用低温样品台:一些扫描电镜配备了低温样品台,可以在成像时保持样品低温,从而减轻热伪影。

样品制备:在进行扫描电镜成像前,确保样品的制备质量,避免过大的不均匀区域或凹陷,以减少电子束的局部能量损耗。

实验参数优化:根据特定的样品和实验需求,优化扫描电镜的参数,以找到高质量的成像条件。

热伪影是一个需要仔细处理的问题,因为它可能会导致图像质量下降和分析误差。通过合理选择实验参数和采取适当的预防措施,可以减小热伪影的影响。

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作者:泽攸科技