扫描电子显微镜通常用于金属和合金分析的原因如下：

高分辨率：SEM具有很好的分辨率，可以显示金属和合金样品的微观结构和表面形貌。这使得它适用于观察晶粒、晶界、缺陷、相界和颗粒等微观结构。

表面拓扑分析：SEM可以提供关于金属和合金表面的详细拓扑信息，包括表面粗糙度、颗粒分布、孔洞和其他微观特征。这对于材料性能的分析和改进非常重要。

成分分析：通过与能谱仪（EDS）或荧光X射线光谱仪（XRF）等能谱技术结合使用，SEM可以用于定性和定量分析金属和合金中各种元素的组成。这对于合金的成分分析和材料研究至关重要。

非破坏性分析：与传统的金相显微镜不同，SEM是一种非破坏性分析方法，可以在不破坏样品的情况下进行观察和分析。这对于保持样品的完整性和重复测试非常有利。

表面处理和修饰：SEM可以用于研究和评估金属和合金的表面处理和修饰效果，例如涂层、镀层和清洁过程。

能谱分析：SEM结合EDS技术可以提供元素分布图，帮助研究人员了解金属和合金中元素的分布情况。这对于分析材料的异质性非常有用。

深度分析：通过SEM的截面观察功能，可以进行深度分析，探究金属和合金内部的结构和性质，如涡流、晶粒生长和断裂模式。

ZEM18台式扫描电镜

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