扫描电镜SEM可以用来观察和分析各种材料的表面形貌和微结构。那么扫描电镜可以分析什么呢？

表面形貌：SEM能够以高分辨率观察物体表面的形貌，包括粗糙度、表面纹理、表面形态等。

成分分析：SEM可以通过能谱仪（EDS）或电子能量捕获器（EBSD）等技术来分析样品的元素组成及其分布情况。

晶体结构：SEM可以观察样品的晶体结构，包括晶体的形态、大小、晶面、晶界等。

断口形貌：SEM可以观察和分析断口形貌，包括断口的形态、大小、裂纹等。

表面化学性质：SEM可以通过荧光探针和荧光光谱仪等技术，观察和分析样品表面的化学性质。

磁性性质：SEM还可以观察和分析样品的磁性性质，包括磁畴、磁性相等。

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