碳纳米管（CNTs）中往往不可避免地存在结构缺陷。这些结构缺陷不仅会破坏晶格结构的完整性，还有可能严重影响碳纳米管的机械性能。但从另一个角度看，刻意而准确地在CNTs中调控缺陷，可以按需求调节其机械性能。本文介绍了一种利用扫描探针式原位样品杆在透射电子显微镜（TEM）中准确调节CNTs缺陷的技术。这种技术不仅调节准确、过程可逆并且还具有较高重复性，对基于CNTs的谐振器器件研发意义重大。相关研究成果由厦门大学及日本NIMS研究所联合完成，发表在《Nano Lett》上。

   泽攸科技的PicoFemto原位TEM-STM系统在该研究中稳定地完成了载样、亚纳米级操纵、施加高频交变电场以及脉冲电流的工作。

研究者在TEM中，利用电子束辐照，将CNT的一端焊接在原位样品杆的W针尖位置。通过在金电极和W针尖之间施加交变电流，使CNT发生谐振。

     研究者利用纳米操纵单元分别将CNT两端与W针和金电极接触，并通过脉冲电流和电子束辐照实现对CNT中缺陷的调制。此过程可以通过TEM图像实时原位观测。

 通过在原位探针杆上安置力学模块，研究者进一步研究了调制后的CNT的机械性能。

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公司原位TEM/SEM系列核心产品：

1. 原位TEM/SEM亚纳米操纵手

2. 原位TEM/SEM电学测量系统

3. 原位TEM/SEM力学-电学测量系统

4. 原位TEM/SEM光学-光电测量系统

5. 原位TEM/SEM加热/电化学/电学/液体多功能测量系统

6. 原位TEM/SEM流动式电化学测量系统

7. 原位TEM/SEM流动式气体测量系统

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1.单倾TEM三样品杆（一次载入三样品，测试效率倍增）

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