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PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统

日期:2019-09-27

透射电镜原位STM-TEM电学测量系统

         透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。


性能指标

透射电镜指标:

● 兼容指定电镜型号及极靴;

● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);

● 保证透射电镜原有分辨率。

 

电学测量指标:

● 包含一个电流电压测试单元;

● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;

● 电流分辨率:优于100 fA;

● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;

● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。

 

扫描探针操纵指标:

● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;

● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;

● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。

 

 以上就是泽攸科技PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统的介绍,关于整套系统价格请咨询18817557412(微信同号)

透射电镜原位STM-TEM电学测量系统

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作者:小攸