扫描电镜是一种常用于表面形貌分析的先进显微技术。以下是进行表面形貌分析的一般步骤：

样品制备：

样品通常需要被金属喷镀（或其他导电性涂层），以增强其导电性，以便在SEM中观察。

样品的大小通常在毫米到厘米的范围内，并且需要被切割或磨削到适当的尺寸。

导电涂层：

对于非导电性样品，需要在样品表面涂覆一层导电涂层，通常是金属（如金或铂）薄层。这可以通过真空蒸镀或溅射等方法实现。

样品安装：

将样品安装在SEM样品台上，确保它稳固且导电性良好。

真空抽取：

在进行观察之前，需要将SEM室内的空气抽取，创建真空环境，以避免电子束与空气分子相互作用。

参数设置：

设置SEM的工作参数，包括加速电压、电流、放大倍数等。这些参数的选择取决于具体的样品和所需的分辨率。

对焦和调整：

使用SEM的对焦和调整功能，确保获得清晰的图像。

图像获取：

使用电子束扫描样品表面，通过探测所产生的信号生成图像。通常，这些信号包括二次电子图像（SEI）和反射电子图像（BEI）等。

分析和测量：

利用SEM软件进行图像分析和测量，包括颗粒大小、表面形貌等参数。

结果解释：

根据SEM图像和分析结果，解释样品的表面形貌特征，提取有关样品性质的信息。

ZEM20台式扫描电镜

以上就是泽攸科技小编分享的扫描电镜如何进行表面形貌分析。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。