扫描电镜通常对样品本身不会引起磨损和疲劳。SEM是一种非侵入性的表征技术，通过照射样品表面并测量反射、散射或发射的电子来获取图像，不会对样品造成直接的物理影响。

然而，在使用SEM时需要注意以下几点：

样品制备： 样品的制备过程可能会引入一些影响，特别是在样品表面涂覆导电性薄层时。这一步骤可能涉及到一些化学物质，但通常情况下对样品整体不会造成磨损和疲劳。

电子束能量： 使用高能电子束可能导致样品表面的局部加热，但一般情况下这样的加热是短暂的，不太可能引起材料的持续磨损。

操作方式： 慎重操作扫描电镜是重要的。一些操作错误，比如使用过高的电子束能量或样品表面不平整，可能对样品造成影响。因此，在进行观察前，通常需要进行适当的样品制备和仪器参数设置。

ZEM18台式扫描电镜

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