扫描电镜（SEM）的工作温度和样品温度控制方法在不同情况下可以有所不同。以下是一些常见的SEM工作温度和样品温度控制方法：

室温SEM：许多SEM系统在室温下工作，不需要额外的温度控制。样品通常放置在SEM的样品室中，可以在室温下进行成像。

低温SEM：有些应用需要在低温条件下进行成像，例如对冷冻样品的研究。在这种情况下，SEM系统可以配备低温样品舞台，通过液氮或制冷机制来降低样品的温度。这些系统通常能够在低温度下工作，例如液氮温度。

高温SEM：某些研究需要在高温条件下进行成像，例如对高温材料或反应的研究。高温SEM通常使用加热样品舞台或样品室来实现高温成像。这些系统可以提供高温度范围，通常可达数百摄氏度。

环境SEM：有一些SEM系统设计用于在特定气体或气氛下进行成像。这些系统通常具有气氛控制功能，可以控制样品周围的气体环境和温度。

加热/冷却样品：针对特定应用，还可以使用热/冷样品夹具或加热/冷却舞台来实现对样品的控制加热或冷却。这些设备可以实现更广泛的温度范围，并可用于各种研究目的。

扫描电镜的工作温度和样品温度控制方法取决于具体应用和研究需求。无论使用何种方法，温度控制对于某些研究是至关重要的，因为它可以影响样品的性质和反应，从而提供更多信息和洞察。

ZEM18台式扫描电镜

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