在选择适合的探针和检测器进行扫描电镜（SEM）分析时，需要考虑要研究的样品性质、所需分辨率、表面拓扑特征和所需信号类型。以下是一些常见的探针和检测器以及它们的应用：

二次电子显微镜（SEMs）：

二次电子探针（SE）：用于获得样品表面的形貌信息，对样品表面的拓扑特征非常敏感。适用于大多数样品。

反射电子显微镜（BSE）：用于获得样品的原子数或密度信息，对高原子序数元素敏感。适用于成分分析。

能量色散X射线光谱分析（EDS）：

X射线能谱探测器：用于定量分析样品的元素成分。适用于确定样品的化学成分和元素分布。

扫描穿透电子显微镜（STEM）：

透射电子探针（TEM）：用于观察样品内部的细节，可实现高分辨率的原子级成像和分析。

反射光电子显微镜（REM）：

反射电子显微镜：用于获得原子层面的表面形貌信息，对晶体结构和异质界面的研究非常有用。

探针栅显微镜（AFM）：

原子力显微镜：用于研究样品的表面拓扑、力和磁性等性质。适用于非导电样品。

在选择探针和检测器时，还需要考虑以下因素：

分辨率：选择与所需分辨率匹配的设备。

样品性质：考虑样品的导电性、形状和尺寸。

分析目的：明确您的分析目标，是观察样品的表面形貌、元素分布还是内部结构。

成本：不同类型的探针和检测器有不同的价格，需要根据预算做出选择。

ZEM20台式扫描电镜

以上就是泽攸科技小编分享的如何选择适合的探针和检测器以进行扫描电镜分析。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。