在扫描电镜中，电子束与样品交互可能会导致辐射损伤，特别是对于生物样品或热敏感材料。以下是一些常见的样品保护措施和减轻辐射损伤的方法：

低电子束能量： 降低电子束的能量可以减小样品受到的辐射损伤。较低的电子能量通常会导致较少的电子穿透样品，减小对样品的破坏。

低电子束电流： 减小电子束的电流可以降低辐射损伤的风险。使用更低的电子束电流可以减小样品上的电子密度，减少样品的辐射敏感性。

冷冻样品： 对于生物样品，可以将样品冷冻以减缓辐射损伤的速度。低温可以减少电子束的热效应，有助于保护样品的生物结构。

使用导电性涂层： 在样品表面涂覆薄导电涂层，如金或碳，有助于减小电子束的透射和反射，从而减小电子束的损伤效应。

降低像增益： 在获取图像时，降低像增益可以减小辐射损伤的程度。尽管这可能导致图像质量降低，但可以减小对样品的损害。

快速成像： 尽量减小每个像素的曝光时间，以减少样品受到的电子束暴露时间，从而降低辐射损伤的风险。

使用低真空模式： 在SEM中，可以使用低真空模式来减小电子束与样品之间的相互作用，从而降低辐射损伤。

样品旋转： 对于均匀扫描，可以使样品持续旋转，以分散电子束的能量，减小辐射损伤的程度。

光子相干辅助成像： 一些先进的SEM系统结合了光子相干辅助成像技术，通过使用可见光来辅助成像，减小了电子束对样品的伤害。

ZEM18台式扫描电镜

以上就是泽攸科技小编分享的扫描电镜中的辐射损伤和样品保护措施。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。