扫描电镜和透射电镜是两种不同类型的显微镜，都用于观察微观结构，但它们的工作原理、成像方式以及适用范围有很大的不同。

扫描电镜（SEM）：

工作原理： SEM使用聚焦的电子束扫描样品表面，与样品表面的相互作用产生的电子信号用于生成表面形貌图像。电子束与样品之间的相互作用主要包括二次电子发射、反射电子、和散射电子等。

成像方式： SEM生成的是样品表面的三维形貌图像，通过扫描电子束在样品表面的位置来形成图像。图像通常具有较大的深度信息，但不提供关于样品内部结构的详细信息。

适用范围： SEM适用于观察样品的表面形貌、纹理、尺寸、膨胀等特征。它通常用于材料科学、生物学、地质学等领域。

透射电镜（TEM）：

工作原理： TEM通过将电子束穿过样品并通过样品的薄片，测量透射的电子来获得图像。透射电子在穿过样品时与样品内部的原子和结构相互作用，产生不同程度的散射和吸收。

成像方式： TEM生成的是样品的二维截面图像，通过测量电子束透射的强度变化来形成图像。它能够提供高分辨率的样品内部细节，如细胞内部结构、晶体结构等。

适用范围： TEM适用于研究样品的微观结构、晶体学、纳米尺度的材料和生物学特征等。它能够揭示样品内部的原子排列和结构。

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