在扫描电子显微镜（SEM）中，可以通过以下步骤计算样品的实际大小：

获得像素尺寸：首先，需要知道SEM图像的像素尺寸，即每个像素代表的实际长度或距离。这通常在SEM设备的规格说明中给出，例如，每个像素可以表示10纳米（nm）或其他长度。

测量像素长度：在SEM图像中，选择一个已知长度的参考对象，例如标准样品上的标尺或已知尺寸的微小结构。使用SEM软件或其他图像处理工具，测量该参考对象在像素中的长度。

计算实际大小：使用下述公式计算样品的实际大小：实际大小 = 测量的像素长度 × 像素尺寸

通过测量已知参考对象的像素长度，并乘以像素尺寸，可以得到样品在实际尺寸上的长度或距离。这种方法可以用于测量SEM图像中的各种结构、颗粒或特征的实际大小。请注意，这个方法的准确性取决于像素尺寸的准确性和测量的精度。

ZEM15台式扫描电子显微镜

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