扫描电子显微镜（SEM）可以观测不平整的样品。事实上，扫描电镜在观测表面形貌时特别适用于不平整样品，因为它具有较大的深度聚焦范围和较大的工作距离。

相比之下，传统的透射电子显微镜（TEM）在观察不平整样品时可能会受到限制，因为TEM需要制备非常薄的样品切片，这对于不平整的样品可能更加困难。

使用扫描电子显微镜观察不平整样品时，样品表面的形貌特征可以被高分辨率地捕捉和显示。扫描电子显微镜通过扫描电子束在样品表面上的扫描来获取图像，从而提供了更大的深度信息和表面细节。

无论是金属表面、陶瓷材料、生物样品还是其他不平整的样品，扫描电子显微镜都可以提供详细的表面形貌信息，帮助研究人员更好地理解样品的微观结构和特征。

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