扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种高分辨率的显微镜，其原理是利用电子束扫描样品表面并收集散射电子、反射电子、二次电子等信号，经过信号的放大、处理和成像后得到高清晰度的样品表面形貌和微观结构信息。

下面是扫描电子显微镜的基本使用方法：

样品制备：根据需要制备不同类型的样品，并确保样品表面光滑、干燥、无气泡和灰尘等。

样品安装：将样品放置在样品台上，并使用夹具或导电胶将其固定在台面上，使样品表面朝向电子枪。

调节参数：打开电子枪和探针枪，根据不同的样品类型和需要观察的信息，调节加速电压、探针电压、工作距离、放大倍数等参数。

开始观察：启动扫描仪器，观察样品表面结构，可以采用多种扫描模式和不同角度的观察方式。

图像处理：使用图像处理软件对采集到的图像进行处理和分析，可以得到更详细的信息和精细的图像。

台式扫描电镜

需要注意的是，在使用扫描电子显微镜时，应当注意操作安全和保护仪器，以免损坏设备或造成伤害。

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