扫描电镜是一种高分辨率显微技术，可以通过扫描样品表面并探测样品表面反射、散射的电子信号来获得样品表面形貌、结构和组成等信息。扫描电镜可以通过改变电子束的聚焦和放大倍数来调节图像的放大程度，下面是扫描电镜放大倍数计算方式的简要介绍。

SEM图像的放大倍数通常分为实际放大倍数和显示放大倍数两种。

实际放大倍数 = 探测器到样品距离 / 样品上所显示的实际长度

探测器到样品距离指的是电子枪和样品之间的距离，这个距离可以由SEM中的聚焦系统调节，探测器到样品距离越小，则实际放大倍数越大。

样品上所显示的实际长度可以由样品尺寸进行测量得到，例如SEM图像中一条线的长度可以通过显微镜测量尺寸得到。

显示放大倍数是SEM图像在显示器上显示的放大倍数，通常是实际放大倍数的一个固定倍数，可以由SEM中的图像处理系统进行调节。例如，如果实际放大倍数是1000，显示放大倍数是2000，则SEM图像在显示器上显示的放大倍数是2000。

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需要注意的是，SEM中的放大倍数是指图像的线性放大倍数，即图像中一个单位长度在样品上所对应的长度，而不是面积放大倍数或体积放大倍数。因此，在使用SEM进行图像分析和测量时，需要了解和计算实际放大倍数和显示放大倍数。

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