扫描电镜（SEM）是一种高分辨率成像技术，可以用于观察样品的表面形态和结构。在使用中，可以将SEM与其他测量设备（如EDS、EBSD等）连接起来，从而实现对样品成分和结构的更全的分析和表征。以下是几种常见的扫描电镜连接设备。

EDS分析：EDS（能量分散X射线光谱）是一种常用的SEM连接测量技术，可以用于分析样品中的元素成分。通过将EDS探测器连接到SEM上，可以在成像的同时进行元素分析，获得样品的元素组成信息。

EBSD分析：EBSD（电子背散射衍射）是一种SEM连接测量技术，可以用于分析样品的结构和晶体学性质。通过将EBSD探测器连接到SEM上，可以在成像的同时进行晶体学分析，获得样品的晶体学信息和晶体结构。

CL分析：CL（荧光）是一种常用的SEM连接测量技术，可以用于分析样品的光学性质。通过将CL探测器连接到SEM上，可以在成像的同时进行光学分析，获得样品的荧光信息和光学特性。

AFM分析：AFM（原子力显微镜）是一种高分辨率的表面形貌测量技术，可以与SEM连接起来用于对样品进行更全的表征。通过将AFM探针与SEM成像区域重合，可以在SEM成像的同时进行高分辨率的表面形貌测量，获得样品的表面形态信息。

总之，连接测量方式可以为SEM成像提供更全的信息，使得样品的成分、结构和性质可以得到更详细的表征。不同的连接测量技术可以根据需要选择，以获得合适的分析结果。

以上就是泽攸科技小编为您介绍的扫描电镜常见的连接设备。更多扫描电镜信息及价格请咨询15756003283(微信同号)。