扫描电镜具有非常高的分辨率和放大倍数，可提供非常详细的表面形貌信息，已广泛应用于材料科学、生物医学、纳米科技等诸多领域。

扫描电镜测量结果可能受到SEM本身分辨率和测量设备的误差、样品制备和处理的影响、样品表面电荷和形貌等因素的影响。此外，扫描电镜测量需要对样品进行处理和准备，这可能会导致样品结构和形态的变化，进而影响测量结果的准确性。

所以在使用扫描电镜进行测量时，需要注意样品制备和处理的质量，选择合适的扫描电镜参数，进行多次测量和比对结果等措施，以提高测量的准确性和可靠性。

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