PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,价格请咨询18817557412(微信同号)
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成光学模块,从而实现在透射电镜中进行原位光电测量或者光谱学表征研究。
性能指标
透射电镜指标:
● 兼容指定电镜型号及极靴;
● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);
● 保证透射电镜原有分辨率。
电学测量指标:
● 包含一个电流电压测试单元;
● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;
● 电流分辨率:优于100 fA;
● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;
● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。
扫描探针操纵指标:
● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;
● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;
● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。
光纤指标:
● 光纤外径250 um,保证电镜系统真空指标;
● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜;
● 可选SMA接头、FC接头。
产品特色
(1)采用双向光纤,可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究;
(2)光电一体化解决方案,具有高拓展性;
(3)高稳定性,保证电镜原有分辨率;
(4)很长的寿命:专利技术(专利种类:实用新型(具备高分辨多维操纵和电学测量的电子显微镜原位样品杆) 专利号:202020944865 .4)的“爪-球”结构探针杆因其独特的结构设计,是公认皮实耐用的探针杆;
(5)很低维护成本:设备配套的针尖制备系统可低成本制备针尖耗材。”爪-球“微动结构已实现模块化量产,维护成本低;
(6)很大的用户群:在国内拥有近200个高质量原位用户,出口到欧美澳等地。每年,用户会产出大量高质量研究成果。定期组织各类用户交流活动,搭建学术平台供用户交流;
(7)成熟的技术支持网络:在安徽、北京、东莞和上海拥有分公司,其他各地拥有若干技术支持网点,24小时提供技术支持。
部分国内用户
部分国外用户
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