聚焦东莞┃泽攸科技邀您共赴2023年全国电子显微学学术年会
日期:2023-10-19
10月26日-30日,2023年全国电子显微学学术年会将在东莞市会展国际大酒店召开。泽攸科技将携一众先进科学仪器及新微纳技术领域行业解决方案,诚邀您共赴盛会!
本届年会学术交流内容包括:球差校正透射电子显微学及应用、原位显微学技术(包括力学、物理、化学、生物等)及应用、高分辨扫描电子显微学、微束分析、扫描探针显微学(包括STM、AFM等)、低温电子显微学和激光共聚焦显微学等。会议亦包含这些技术在前沿物理科学、化学、地学、生命科学、医学和信息科学等学科及新能源技术、热电材料、信息技术、环境科学与技术、先进结构材料等领域中的基础研究和应用基础研究成果;会议将展示显微学相关仪器理论、技术和实验方法的新进展;会议将促进电镜及其他显微学仪器的共享、运行、管理、开放共享、实验平台使用、改进与维修的交流等
参会信息
时间:10月26日~30日
地点:东莞市会展国际大酒店
展位:4-16
泽攸科技是一家具有完全自主知识产权的先进科学仪器公司,专注于研发、生产和销售原位电镜解决方案、扫描电镜整机、台阶仪、探针台等科学仪器,立志成为具有国际先进水平的材料表征测量仪器及半导体加工科学仪器制造商。目前,公司有包括PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统、ZEM系列台式扫描电镜、JS系列台阶仪等在类的多个产品线,在国内外均获得了高度关注。
ZEM系列台式扫描电镜同时兼具成像质量和便携性,加速电压可以连续调节,可同时搭配二次电子探测器、背散射电子探测器、集成式能谱仪及多种原位样品台,拥有多项自主创新技术,满足不同实验及检测需求,应用领域广泛。
PicoFemto系列原位TEM测量系统是将光、电、力、热、冷冻、液体、气氛等功能集成到透射电镜内,将您的透射电镜打造成功能强大的纳米实验室。
PicoFemto系列原位SEM测量系统是将拉伸、纳米压痕、低温、液体、气体等复杂的测试模块集成进扫描电镜,大大提高您扫描电镜的应用领域。
泽攸科技JS系列高精度台阶仪是公司自主研发的国产台阶仪。突破核心技术-大行程超精密平面扫描-70mm,优于20nm/2mm;大带宽大行程纳米微动台-80um,10kHZ;超微压力恒定控制,0.5mN-15mN,打破了国外垄断的局面,是半导体国产化进程中不可或缺的一环。
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作者:泽攸科技