在扫描电镜（SEM）中，调整样品台的倾斜角度可以帮助优化图像的对比度、观察表面结构的细节，以及获得立体感和更好的断层视角。样品台的倾斜角度通常可以在控制面板中手动或自动调整，以适应不同的成像需求。以下是具体的调整方法和注意事项：

1. 样品台倾斜控制

手动控制：部分 SEM 配有物理按钮或旋钮，可以直接手动调整样品台的倾斜角度。通常在显微镜的控制面板或样品舱附近。

软件控制：许多现代 SEM 通过软件控制样品台倾斜。在操作软件的用户界面中，可以找到倾斜控制选项，输入所需的角度（例如 0° 到 90°）并执行调整。

2. 常见倾斜角度应用

0°（水平）：适用于一般成像和样品表面特征分析。水平放置可以减少视角失真，使得表面观测效果更好。

15° – 45°：倾斜角度的设置能增强表面结构的立体感，尤其适合于观察样品的纵深或厚度。例如，颗粒表面观察或层状样品的成像。

>45°：高角度倾斜用于观察横截面或接近垂直的结构，适合断层成像和立体观察。

3. 调整步骤

定位样品：将样品放置在样品台上，确保牢固固定。

选择初始倾斜角度：在 SEM 软件中或使用手动控制将样品台倾斜至所需初始角度（如 0°）。

实时观察调整效果：在 SEM 界面上观察实时图像，慢慢增加或减小倾斜角度，调整至所需的观察效果。

4. 倾斜角度对成像效果的影响

电子束入射角度：样品台倾斜会改变电子束入射角度，从而影响样品的电子发射效率和图像对比度。

表面电荷累积：对非导电材料，倾斜角度可能影响电荷分布，导致样品不同区域的电荷累积变化。合理的角度可以减小充电效应。

景深变化：倾斜角度增加会带来一定的景深变化，适当的倾斜可使样品的不同层面同时成像清晰。

5. 注意事项

避免样品与物镜碰撞：样品台倾斜时要特别小心与物镜或探头之间的距离，以免倾斜角度过大导致碰撞。

校准和重新聚焦：倾斜样品后，需重新对焦和校准以获得清晰的图像。

样品稳定性：确保样品牢固固定，以避免倾斜过程中样品移动或振动影响成像质量。

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