在扫描电镜（SEM）中进行低温样品成像（也称为冷冻SEM或Cryo-SEM）可以有效保留样品的原始结构和水分状态，尤其适用于生物样品、聚合物和其他对温度敏感的材料。以下是详细的步骤和方法来进行低温样品成像：

1. 样品制备

快速冷冻

高压冷冻：使用高压冷冻仪将样品迅速冷冻至液氮温度（-196°C）以下，以防止冰晶形成。

浸入冷冻：将样品快速浸入液氮或液氦中冷冻。

样品固定

固定样品：将冷冻的样品固定在冷冻样品架上，确保样品与样品架紧密接触，减少热传导。

样品处理（可选）

冷冻断裂：对于需要观察内部结构的样品，可以进行冷冻断裂处理。在冷冻状态下将样品劈开，暴露出内部结构。

冷冻替换：用有机溶剂（如丙酮或甲醇）替换样品中的水分，然后冷冻干燥。这种方法可以减少冰晶形成，适合某些特殊样品。

2. 低温转移

冷冻转移系统

使用冷冻转移系统：将冷冻样品从冷冻装置转移到SEM的冷冻样品室中。冷冻转移系统通常包括冷冻样品盒和冷冻转移杆，确保样品在低温环境下转移，避免升温和冰晶形成。

3. 冷冻SEM系统设置

安装冷冻样品室

冷冻样品室：安装冷冻样品室或冷冻台在SEM中，确保样品在低温条件下成像。冷冻样品室通常带有冷却装置，可以保持样品在低温环境中。

低温成像设置

温度控制：在SEM控制面板中设置冷冻样品室的温度，通常在-150°C到-190°C之间。确保样品在整个成像过程中保持低温。

真空度控制：调整SEM样品室的真空度，适应低温环境下的样品观测。

4. 成像和数据采集

低加速电压和低束流

低加速电压：使用低加速电压（通常在1-5 kV之间）减少电子束对冷冻样品的损伤。

低束流强度：减少束流强度，避免高能电子束对样品的加热和损伤。

实时监控

实时监控：在成像过程中实时监控样品温度和真空度，确保样品始终处于低温状态。

成像和数据采集

高分辨率成像：在低温条件下进行高分辨率成像，获取样品的详细结构信息。

图像保存：保存和记录成像数据，确保数据的完整性和可靠性。

5. 后处理和维护

样品后处理

样品储存：完成成像后，将样品储存在低温环境中，防止升温和结构变化。

样品处理：根据实验需要，对样品进行进一步处理或分析。

设备维护

定期检查：定期检查和维护冷冻SEM系统，包括冷冻样品室、冷却装置和真空系统，确保设备正常运行。

清洁设备：定期清洁冷冻样品室和样品转移系统，防止污染和损坏。

以上就是泽攸科技小编分享的如何在扫描电镜中进行低温样品成像的介绍。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。