分析扫描电镜（SEM）图像中的粒径大小通常需要借助图像处理和分析软件。以下是一种常见的方法：

图像预处理： 首先，需要对SEM图像进行预处理，以准备进行粒径分析。这可能包括去除背景噪音、调整对比度和亮度等操作，以确保图像质量和准确性。

阈值分割： 接下来，可以使用阈值分割方法将图像转换为二值图像，其中粒子部分被标记为白色，背景部分被标记为黑色。阈值选择的适当性对于准确分割粒子非常重要。

粒径测量： 一旦图像被分割成粒子和背景两部分，就可以使用图像分析工具来测量粒子的大小。常见的粒径测量方法包括：

基于形态学的操作： 可以使用形态学操作（如膨胀、腐蚀、开运算、闭运算等）来处理二值图像，以消除噪声并连接粒子边缘。然后，可以使用连通区域分析（connected component analysis）来识别和测量各个粒子的大小。

边界检测： 可以使用边缘检测算法（如Sobel、Canny等）来检测粒子的边界，并根据边界信息计算粒子的直径或面积。

圆形拟合： 对于近似圆形的粒子，可以对其进行圆形拟合，并从拟合结果中提取直径信息。

统计分析： 可以对测量到的粒径数据进行统计分析，如计算粒径分布、平均粒径、标准差等。

需要注意的是，粒径分析的精度和准确性取决于图像的质量、分割的准确性以及所选择的分析方法。因此，在进行粒径分析之前，建议对图像和分析过程进行充分的验证和优化。

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