台式扫描电镜的探测方式有哪些
日期:2024-03-13
台式扫描电镜通常采用多种不同的探测方式,以适应不同的观察和分析需求。以下是常见的台式扫描电镜的探测方式:
二次电子像(SEI):二次电子像是常见的扫描电镜图像类型之一。它们反映了样品表面的拓扑形貌和表面特征。二次电子像通常具有较高的表面分辨率和对比度。
反射电子像(REI):反射电子像是由样品表面反射的高能电子形成的。这种图像对于观察导电性较差的样品(如生物样品、聚合物等)很有用。
透射电子像(TEI):透射电子像是由透过薄样品的电子形成的。这种图像适用于观察材料内部的微观结构和成分。
背散射电子像(BSEI):背散射电子像是由样品中的背散射电子形成的。这种图像对于观察材料的成分分布和密度变化很有用。
能谱分析(EDS):能谱分析是一种通过探测样品中的X射线来确定其化学成分的方法。在扫描电镜中,常使用能谱仪进行能谱分析,以获取样品的元素分布和组成信息。
电子衍射:电子衍射是一种通过测量样品衍射图样来确定其晶体结构的方法。在扫描电镜中,可以利用电子衍射技术来研究材料的晶体学性质。
显微X射线荧光(Micro-XRF):显微X射线荧光技术可以用于获取样品表面的元素分布和含量信息。在扫描电镜中,通常结合X射线荧光探测器进行显微X射线荧光分析。
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作者:泽攸科技
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