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透射电镜与台式扫描电镜:不同的成像原理

日期:2024-02-23

透射电镜(TEM)和台式扫描电镜(SEM)是两种常用的电子显微镜,它们在成像原理和应用方面有着显著的差异。

透射电镜 (TEM):

成像原理:透射电镜通过将电子束穿过样品并收集通过样品的电子来形成图像。样品被制成很薄的切片,通常在纳米到微米的厚度范围内。电子束在样品中与原子发生相互作用,其传输过程受到样品内部结构的影响,从而产生高分辨率的二维投影图像。

应用:透射电镜常用于研究生物学、材料科学、纳米科学等领域,可以观察到原子尺度上的细节结构,如晶体排列、原子间距等。

台式扫描电镜 (SEM):

成像原理:台式扫描电镜则通过扫描电子束在样品表面上的反射或二次电子发射来生成图像。电子束在样品表面扫描,与样品表面的原子和分子相互作用,产生出反射电子、散射电子以及二次电子等。这些信号被收集和转换成图像,从而形成样品表面的三维外观。

应用:SEM广泛应用于材料科学、生物学、地质学等领域,能够提供高分辨率的表面形貌信息,如纹理、形貌、表面粗糙度等。

因此,透射电镜和台式扫描电镜在成像原理、适用范围和分辨率等方面存在显著差异,各自在不同领域有着独特的应用优势。

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作者:泽攸科技