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扫描电镜成像中常见的样品损伤原因有哪些?

日期:2024-02-22

扫描电镜成像中常见的样品损伤原因有许多,其中一些主要原因包括:

电子束辐照损伤: 高能电子束在样品表面与物质相互作用时会引起辐照损伤。这种损伤会导致样品表面的化学成分变化、晶体结构的破坏和形貌的改变。

充电效应: 在扫描电镜中,样品表面可能会由于电子束的照射而带电,这会产生静电吸引力和排斥力,导致样品表面的形貌变化和图像失真。

样品的热损伤: 高能电子束的照射会引起样品局部的加热,导致样品的结构和形貌发生变化,甚至引起样品的熔化或气化。

离子束损伤: 有时在扫描电镜成像前会使用离子束清洁样品表面或修饰样品结构,如果离子束能量过高或时间过长,可能会导致样品表面的损伤和形貌的改变。

样品制备不当: 不适当的样品制备可能导致样品表面存在残留物、氧化物、污染物等,这些物质可能会影响扫描电镜成像并导致样品损伤。

机械损伤: 样品在制备、转移或操作过程中可能受到机械损伤,如划痕、碎裂等,这些损伤可能会影响样品的形貌和成像效果。

为了避免样品损伤,在扫描电镜成像前应当注意样品制备、操作技巧和仪器参数的选择,以减小样品与电子束的相互作用,保护样品的完整性和形貌。

以上就是泽攸科技小编分享的扫描电镜成像中常见的样品损伤原因。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)

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作者:泽攸科技