台式扫描电镜（SEM）和传统电子显微镜（TEM）在工作原理、应用和图像获取方面有一些不同之处：

工作原理：

SEM：SEM使用电子束扫描样品表面，然后检测从样品表面反射、散射或者发射出来的信号，如二次电子、背散射电子、X射线等，来获取图像。

TEM：TEM通过透射电子束穿透样品，然后检测透射电子的强度和位置信息，从而获得样品的高分辨率内部结构图像。

应用范围：

SEM：SEM主要用于表面形貌和表面结构的研究，可用于金属、陶瓷、生物材料、半导体等样品的观察和分析。

TEM：TEM主要用于观察材料的内部结构和晶体学特征，对纳米结构和原子级别的材料研究尤为重要。

图像获取：

SEM：SEM图像是样品表面的三维形貌图像，具有高深度和高分辨率，能够显示样品的表面形态和微观结构。

TEM：TEM图像是样品的二维投影图像，通常具有更高的分辨率，能够显示材料的晶体结构、晶面、原子排列等细节。

样品准备：

SEM：SEM对样品的准备要求相对较低，通常不需要太复杂的样品制备过程，样品可以直接进行观察。

TEM：TEM对样品的制备要求较高，通常需要将样品制备成非常薄的切片，以确保电子束能够透射样品并获得清晰的图像。

分辨率：

SEM：SEM的分辨率通常在纳米级别，能够观察到样品表面的微观结构和细节。

TEM：TEM的分辨率通常在埃级别（0.1纳米），能够观察到样品内部的原子级别的细节。

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