在扫描电子显微镜（SEM）中，次级电子图像是通过探测样品表面产生的次级电子而获得的图像。次级电子是在样品表面被激发并从表面释放出来的电子。这些电子的能量通常比原始的初级电子（用于激发样品表面的电子束）较低。

次级电子图像通常用于观察样品表面的形貌、轮廓和微观结构。由于次级电子主要来自样品表面的外层，因此这种图像提供了关于样品表面的表征。次级电子图像的对比度通常与样品的表面拓扑结构相关，使其成为表面形貌分析的有力工具。

通过调整SEM的参数，例如电子束的能量和探测器的设置，可以优化次级电子图像的对比度和分辨率。次级电子图像在材料科学、生物学、纳米技术等领域中广泛应用，用于研究微小结构和表面形貌。

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