扫描电镜（SEM）图像中的伪影可以由多种因素导致，其中一些主要因素包括：

充电效应： 样品在电子束照射下可能会带电，导致充电效应。这种充电效应会影响电子束的路径，导致图像中的亮度和对比度变化，形成伪影。

样品导电性差异： 样品中存在不同导电性的区域，如绝缘体和导电体的交界处。这种导电性差异可能导致电子束的散射或反射，产生图像中的伪影。

样品表面的形貌和特性： 样品表面的形貌和特性，例如表面粗糙度、结晶结构或涂层的均匀性，都可能在图像中产生不同的亮度和对比度，形成伪影。

电子束的角度和入射能量： 电子束的角度和入射能量也可以影响图像中的亮度分布。不同的入射条件可能导致表面特征的强调或模糊，形成伪影。

金属涂层： 为了提高导电性和减少充电效应，有时会在样品表面涂覆一层金属。然而，金属涂层可能导致反射、散射和其他影响图像质量的问题。

仪器校准和设置： 仪器的校准和设置可能对图像产生影响。例如，透镜的聚焦和检测系统的参数设置可能会引入伪影。

在实际应用中，研究者通常通过调整扫描电镜的参数、优化样品准备过程和采用合适的技术手段来减少或消除伪影，以获得更准确和清晰的图像。

ZEM20台式扫描电镜

以上就是泽攸科技小编分享的扫描电镜图像中的伪影是如何产生的。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。