扫描电镜（SEM）与传统光学显微镜有一些显著的不同之处，包括以下几点：

分辨能力： SEM具有更高的分辨能力，可以观察到比传统光学显微镜更小的特征和微观结构。这是因为SEM使用电子束而不是可见光，电子波长远小于可见光波长。

样品类型： SEM适用于观察导电或导体涂层的样品，因为它需要样品导电以排除电子束充电效应。传统光学显微镜则可用于各种样品类型，包括不导电的生物和无机材料。

放大倍数： SEM通常提供更高的放大倍数，可以放大数千至数百万倍。这使得SEM适用于观察微小的纳米级和亚微米级结构。

深度： SEM通常提供3D表面信息，因为它可以在样品表面扫描电子束，并根据反射和二次电子发射来创建3D表面模型。传统光学显微镜通常提供2D图像。

准直性： SEM中的电子束是通过电子透镜系统进行准直的，因此SEM在观察非常细小的细节时能够提供较高的清晰度。

光源： 传统光学显微镜使用可见光作为光源，而SEM使用电子束。这也导致了SEM对真空环境的需求。

成本： SEM通常较传统光学显微镜昂贵，不仅因为其技术要求，还因为其维护和操作成本相对较高。

ZEM20台式扫描电镜

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