电子背散射（BSE）成像是一种扫描电子显微镜（SEM）成像技术，它利用来自样品表面的后向散射电子来生成高对比度的影像。BSE成像通常用于获取有关样品的原子成分和晶体结构的信息。

以下是进行SEM电子背散射成像的一般步骤：

样品准备：首先，您需要准备您的样品。样品可以是固体、薄膜、颗粒等。确保样品表面光滑，清洁并且导电性良好。

扫描电子显微镜设置：将SEM设置为BSE成像模式。这通常包括选择加速电压、适当的工作距离以及其他相关参数。

样品加载：将样品放置在SEM样品台上，并确保它牢固固定。通常使用导电性样品支架，以确保样品与SEM中的电子束之间有良好的电子导通。

调整参数：根据您的样品，调整SEM参数，包括电子束电流、放大倍数等。

获取图像：使用SEM操纵系统，将电子束聚焦在样品表面。BSE是由样品中的原子核散射电子产生的，因此，获得的BSE图像提供了关于样品成分和晶体结构的信息。

图像分析：采集的BSE图像可以用于分析样品的元素分布、晶体纹理、相变等信息。通常使用SEM软件进行图像处理和分析。

电子背散射成像是SEM中的常见技术之一，用于获得样品的详细信息，特别是在材料科学和地质学等领域。这种技术可帮助研究人员深入了解样品的微观结构和成分。

ZEM18台式扫描电镜

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