在扫描电镜中，电子束与样品之间的距离是一个重要的参数，通常称为工作距离或工作距离。这个距离对SEM成像的质量和性能有显著的影响，以下是一些影响：

成像分辨率： 工作距离会影响SEM的成像分辨率。通常情况下，较小的工作距离可以提供更高的分辨率，因为电子束更聚焦。如果工作距离过大，分辨率可能会下降。

深度和对焦范围： 工作距离也会影响对焦范围，即样品上下表面的焦平面深度。较大的工作距离通常意味着更深的对焦范围，使您能够观察不同深度的样品部分。

信号强度： 较小的工作距离可以提供更高的二次电子和反射电子信号强度。这对于获得清晰的图像和更好的样品导电性很重要。

样品表面和几何： 样品的表面形状和几何特性也会影响工作距离的选择。复杂的样品可能需要不同的工作距离以获得更全的信息。

放大倍数： 工作距离通常会随着放大倍数的增加而变化。较高放大倍数通常需要较小的工作距离。

在SEM操作中，操作员通常需要选择适当的工作距离以满足特定应用的需求。这通常需要一些实验和调整，以获得高质量的成像结果。如果工作距离选择不当，可能会导致分辨率下降、对焦困难或信号强度不足。因此，操作员需要在使用SEM时具备一定的经验和技能。

ZEM20台式扫描电镜

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