扫描电子显微镜有多种变种和模式，每种都适用于不同的应用和研究领域。以下是一些常见的SEM变种和模式：

常规SEM： 常规SEM是常见的类型，用于观察样品的表面形貌和微观结构。它通常使用中能量电子束，并生成二次电子和反射电子图像。

环境SEM（ESEM）： 环境SEM具有特殊的样品室，允许在高湿度、高温度和大气压力下观察样品。这使得可以研究生物样品、水合物和其他不适合在常规SEM中观察的物质。

低温SEM： 低温SEM通常在冷冻条件下观察样品，以研究生物样品、聚合物和其他材料在低温下的性质。

场发射扫描电镜（FE-SEM）： FE-SEM使用场发射电子源，通常具有更高的分辨率和更好的表面拓扑学。它常用于纳米尺度的样品观察。

透射电子显微镜（TEM）： TEM是一种不同于SEM的电子显微镜，它通过样品来传输电子束，用于观察样品的内部结构，如细胞和晶体。

能谱SEM（SEM-EDS）： SEM-EDS结合了SEM和能谱分析，可以同时获得样品的表面形貌和元素成分信息。

反射电子显微镜（REM）： REM使用反射电子来研究样品的表面形貌和晶体结构，特别适用于金属和晶体材料。

低真空SEM： 低真空SEM在样品室中维持较低的真空级别，适用于不导电或难以在高真空条件下观察的样品。

时间分辨SEM： 这种SEM模式允许观察样品的动态过程，例如材料的生长、腐蚀和变形。

3D-SEM： 3D-SEM通过多次拍摄样品的不同部分来构建三维图像，从而提供更全的样品信息。

低电压SEM： 低电压SEM使用较低能量的电子束，适用于敏感样品，可以减小辐射损伤。

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