在扫描电子显微镜（SEM）图像中，伪影（artifacts）和畸变（distortions）可能会对图像的解释和分析造成困扰。以下是一些避免和纠正SEM图像中伪影和畸变的方法：

避免伪影和畸变的方法：

样品制备： 适当的样品制备是避免伪影和畸变的关键。遵循正确的制备步骤，使用合适的固定剂、脱水剂等，以保持样品的结构和形态。

避免过度涂层： 在样品涂覆金属薄层时，避免过度涂层，以免产生射线吸收、背散射等效应，导致图像伪影。

选择合适的工作距离： 在SEM操作时，选择适当的工作距离以避免图像畸变。工作距离过大或过小都可能导致图像失真。

适当的真空度： SEM操作需要在真空环境下进行，但过高的真空度可能导致表面电荷积聚和伪影。保持适当的真空度以避免这种问题。

样品定位： 将样品适当地放置在SEM样品台上，避免不均匀压力和位移，以减少图像的畸变。

纠正伪影和畸变的方法：

标定： 定期进行SEM系统的标定，包括工作距离、像素大小等，以确保获得准确的图像尺寸和形状。

去除背景噪音： 使用图像处理软件去除图像中的背景噪音，以减少伪影的影响。

图像校正： 使用图像处理软件进行图像校正，如扭曲校正、几何校正等，以纠正图像中的畸变。

比较： 将SEM图像与其他技术（如光学显微镜、透射电子显微镜等）得到的图像进行比较，以确认图像中的特征是否真实。

控制参数： 在SEM操作过程中，控制加速电压、工作距离等参数，以减少伪影和畸变。

ZEM18台式扫描电镜

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