在扫描电镜（SEM）中，电子束对样品产生多方面的影响。当电子束与样品相互作用时，产生的相应效应和信号被用于生成显微图像和分析样品的性质。以下是电子束对样品产生影响的几个主要方面：

电子-样品相互作用：电子束在与样品表面或内部相互作用时，会导致电子与样品原子或分子发生碰撞。这些相互作用可能包括散射、透射、吸收和激发等。

电子的散射：电子束中的电子可能会散射回到探测器，从而形成所谓的二次电子图像，用于显示样品表面的形貌和纹理。

透射电子：有些电子可能穿透样品并离开另一侧，从而形成透射电子图像。透射电子图像可用于研究样品内部的微观结构。

吸收和激发：当电子束进入样品时，它可能会被样品的原子和分子吸收，并导致样品中的原子或分子发生激发。激发的电子或光子可以用于分析样品的元素组成和化学性质。

电荷积累：电子束照射样品时，可能会在样品表面积累电荷，导致样品表面产生静电效应。为了避免这种现象，通常需要对非导电样品进行金属涂层处理，以提高其导电性。

以上影响是SEM技术的基础，通过测量和分析电子与样品的相互作用，可以获得样品表面形貌、元素分布、晶体结构等信息。这些信息对于材料科学、纳米科技、生物学等领域的研究具有重要意义。

ZEM15台式扫描电子显微镜

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