扫描电子显微镜（SEM）具有多种工作模式，可根据不同的需求和应用选择适当的模式。以下是常见的几种SEM工作模式：

高真空模式：高真空模式是SEM的基本工作模式。在该模式下，样品和检测器被置于真空环境中，以减少电子束与气体的相互作用，提供清晰的图像和较高的分辨率。高真空模式适用于大多数样品观察和分析，尤其是固态样品。

低真空模式：低真空模式允许在较高的气压下进行观察，而无需将样品进行涂覆或处理。这种模式适用于非导电样品、生物样品、湿润样品和松散样品等不适合在高真空下观察的样品。低真空模式可提供更高的样品适应性，并减少电子束与气体相互作用产生的充电效应。

透射电子显微镜模式：某些SEM设备具备透射电子显微镜模式，允许使用透射电子探测器进行样品的透射电子显微观察。TEM模式可以提供更高的分辨率和更详细的样品内部信息，适用于纳米级别的结构和成分分析。

扫描透射电子显微镜模式：STEM模式将电子束扫描到样品上，同时收集透射电子的散射信号，用于样品表面的高分辨率成像和元素分析。STEM模式在高分辨率成像和原子级结构分析方面具有很高的能力。

分析模式：SEM还可以与各种分析技术结合使用，例如能量色散X射线光谱和电子背散射衍射。这些分析技术可用于获取样品的化学成分、结晶结构、晶格取向等信息。

每种工作模式具有不同的优势和适用范围，具体的选择应根据样品类型、所需分辨率、分析目的和设备功能来确定。在使用SEM之前，建议参考SEM制造商的指南和技术规格，以了解具体设备的工作模式和操作方法。

ZEM18台式扫描电镜

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