扫描电子显微镜（SEM）使用不同类型的探测器来测量和探测样品表面产生的信号。每种探测器具有不同的性能特点，适用于不同的应用和需求。以下是一些常见的SEM探测器类型和性能特点：

后向散射电子探测器（BSE）：

特点：测量和检测从样品表面散射的高能电子。BSE信号与样品的原子序数有关，可提供对样品组成和形貌的信息。

优点：较高的信号强度，对不导电样品有较好的灵敏度，可提供高对比度的图像。

限制：BSE信号与表面拓扑关系密切相关，可能受到拓扑效应的影响。

后向散射探测器（BSE2）：

特点：类似于BSE，但BSE2探测器使用多个探测器接收不同能量范围的BSE信号，提供更丰富的信号信息。

优点：提供更广泛的信号能量范围，可用于增强对比度和分析样品成分。

二次电子探测器（SE）：

特点：测量和检测从样品表面发射的次级电子。SE信号与样品的表面拓扑和导电性有关，可提供表面形貌和细节信息。

优点：高分辨率的表面拓扑信息，对导电和非导电样品均可使用。

限制：信号强度较低，不适用于化学成分分析。

透射电子探测器（STEM）：

特点：透射电子探测器用于透射电子显微镜（TEM），可测量和检测从样品透射的电子。STEM信号可提供样品的原子尺度结构和成分信息。

优点：高分辨率的原子级成像和分析，能够获得元素的能量色散谱（EDS）。

ZEM18台式扫描电镜

以上就是泽攸科技小编分享的扫描电镜的探测器类型和性能。更多扫描电镜产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。