扫描电子显微镜（SEM）中的电子束对样品会产生多种影响，包括以下几个方面：

电子束散射：电子束与样品中的原子和分子相互作用时，会发生散射现象。这种散射会导致电子在样品中的方向改变，并散布到不同的角度和位置上。散射电子通过探测器收集后，可以用于获取样品的反射电子图像和散射电子图像。

能量转移：电子束与样品发生相互作用时，会将能量传递给样品。这种能量转移可能导致样品加热，尤其是在高电子束密度或长时间照射下。样品加热可能导致材料的结构变化、相变或热解等效应。

辐照损伤：高能电子束与样品相互作用时，可能会引起辐照损伤。这包括样品中的电子束诱导位移、空位形成和晶格缺陷等。辐照损伤可能导致样品性质的变化，例如晶格畸变、晶体缺陷的增加以及材料性能的退化。

电子激发：电子束的能量可以激发样品中的电子。这可能导致电子从基态跃迁到激发态，从而引起样品的荧光发射。利用样品荧光发射的特征，可以进行元素分析和成分表征。   

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