扫描电镜（SEM）和传统光学显微镜在工作原理、分辨率、样品准备和观察方式等方面存在显著的区别。

工作原理：传统光学显微镜使用可见光或近红外光来照明样品，并通过透射光来观察样品的细节。而扫描电镜则使用电子束来照射样品，并测量由样品表面产生的信号，例如次级电子和后向散射电子。

分辨率：光学显微镜的分辨率受到光的波长的限制，一般为几百纳米量级。而扫描电镜利用电子束的波动性，具有较高的分辨率，通常可以达到纳米级别，甚至亚纳米级别。因此，扫描电镜可以提供更高的图像清晰度和更详细的表面细节。

观察模式：传统光学显微镜是通过直接观察透射光来获取样品信息，观察过程是实时的。而扫描电镜是通过对样品表面进行扫描和信号检测来获取图像，观察是间接的，需要一定的时间来获得图像。

样品准备：传统光学显微镜对样品准备的要求相对较低，通常只需将样品放置在载玻片上即可。而扫描电镜对样品的准备较为复杂，通常需要对样品进行表面涂层、真空处理或金属化处理，以提高样品的导电性和表面细节的清晰度。

应用领域：传统光学显微镜在生物学、材料科学、药学等领域具有广泛应用，适用于对透明样品和薄片的观察。扫描电镜在材料科学、纳米技术、半导体工业等领域中得到广泛应用，尤其适用于对非透明样品、表面形貌和纳米结构的观察和分析。

ZEM15台式扫描电子显微镜

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