扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）是两种常用的电子显微镜技术，它们在工作原理、应用范围和图像获取方式上存在显著区别。

工作原理：

SEM：SEM利用高能电子束与样品表面进行相互作用，产生二次电子、反射电子和散射电子等，通过检测和记录这些信号来获取样品表面的形貌和成分信息。

TEM：TEM通过将电子束穿过样品，测量和记录透射电子的强度和散射模式，从而获得样品的内部结构、晶体学信息以及元素成分的定量分析。

图像获取方式：

SEM：SEM通过扫描电子束在样品表面的移动，逐点扫描样品，并记录从样品表面反射或散射回来的电子信号，得到图像。图像可以呈现样品的表面形貌、纹理和特征。

TEM：TEM通过将电子束透射样品，通过透射电子的衍射或散射模式来获得样品内部的显微图像。这些图像可以呈现样品的晶体结构、界面和缺陷等细节信息。

应用范围：

SEM：SEM广泛应用于材料科学、纳米技术、生物科学等领域。它适用于观察和表征样品表面形貌、微观结构、纹理、颗粒分布等，并可进行元素成分分析。

TEM：TEM在材料科学、生物科学、纳米科学等领域也有重要应用。它可以提供样品的高分辨率的内部结构信息，如晶体结构、晶格畸变、原子排列等，并可用于纳米材料的形貌和尺寸分析。

ZEM15台式扫描电子显微镜

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