台式扫描电镜（SEM）具有多种成像模式，以下是其中常见的几种：

二次电子成像（SEI）：二次电子成像是常用的台式扫描电镜成像模式。它利用从样品表面发射的二次电子来形成图像。二次电子对样品表面的拓扑和组成非常敏感，能够提供样品的表面形貌和细节信息。

反射电子成像（BEI）：反射电子成像使用从样品表面反射的电子来形成图像。与二次电子不同，反射电子可以提供更深入的样品信息，如晶体结构、材料成分和表面反射率。

透射电子成像（TEI）：透射电子成像模式允许电子束穿透样品，形成透射电子图像。透射电子成像常用于研究材料内部的结构和组织，尤其在材料科学和生物学领域中应用广泛。

背散射电子成像（BSEI）：背散射电子成像利用从样品背面散射回来的电子来形成图像。背散射电子对样品的原子序数和密度非常敏感，因此可以提供有关样品组分和晶体结构的信息。

偏置电子成像（SEI+BSEI）：偏置电子成像模式结合了二次电子和背散射电子成像。通过同时获取二次电子和背散射电子信号，可以提供更丰富的样品信息，包括表面形貌和组成。

这些成像模式在台式扫描电镜中可以根据需要进行选择和调整。每种模式都有其独特的应用和优势，可以用于不同类型的样品研究和分析。根据研究目的，选择合适的成像模式可以获得更详细的样品信息。

ZEM15台式扫描电子显微镜

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