SEM（扫描电镜）和TEM（透射电镜）是两种常用的电子显微镜技术，它们在工作原理、应用范围和图像获取方式等方面存在明显的区别。以下是SEM和TEM之间的主要区别：

工作原理：

SEM：扫描电镜使用高能电子束扫描样品表面，并通过检测样品表面反射、散射或发射的电子来生成图像。SEM图像是通过扫描样品表面来获取的，可以提供高分辨率的表面形貌信息。

TEM：透射电镜使用电子束穿过样品，样品内部的不同区域对电子束的透射产生衍射和散射，然后通过检测透射电子来生成图像。TEM图像是通过样品内部的透射电子来获取的，可以提供高分辨率的内部结构和晶体学信息。

分辨率：

SEM：SEM的分辨率一般在纳米至亚纳米级别，能够观察样品表面的形貌和微观结构。

TEM：TEM的分辨率通常在纳米至次纳米级别，能够观察样品的原子级细节和晶体结构。

样品制备：

SEM：SEM样品制备相对简单，样品通常需要进行导电处理，如金属涂覆或碳薄膜覆盖。样品可以是固态、液态或气态。

TEM：TEM样品制备相对复杂，通常需要将样品制备成非常薄的截面，通常在几十至几百纳米范围内。样品通常需要通过切片、研磨和薄片制备等技术。

应用范围：

SEM：SEM广泛应用于材料科学、生物学、纳米技术、地质学等领域，用于观察和分析样品的表面形貌、微观结构、成分分布等。

TEM：TEM主要应用于材料科学、生物学、纳米技术等领域，用于观察和分析样品的晶体结构、原子级细节、界面和薄膜的形貌等。

ZEM18台式扫描电镜

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