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如何解决扫描电镜高倍率下的电荷积累效应?

日期:2023-05-12

扫描电镜高倍率下的电荷积累效应可以通过以下方式进行解决:

减少电子束束流密度:可以通过减少电子束的束流密度来降低电荷积累效应的影响。具体操作包括降低电子束的电流、缩小电子束的直径等。

降低扫描电子束的能量:较低的电子束能量将减少电子束在样品表面积累的时间,从而降低电荷积累效应的影响。

采用退火法:将样品在高倍率下暴露一段时间后,可以采用退火法去除表面电荷。这种方法需要对样品进行特殊处理,因此在使用之前需要充分了解样品的物理和化学特性,以确定适当的退火条件。

采用低温扫描电镜:低温扫描电镜可以在较低的温度下进行扫描电子显微镜观察,从而减少电子束与样品的相互作用,降低电荷积累效应的影响。但这种方法需要采用特殊的低温样品台和制冷设备,增加了成本和操作难度。

ZEM18台式扫描电镜

ZEM18台式扫描电镜

需要注意的是,不同的解决方案可能适用于不同的样品和应用场景,因此需要在实际操作中根据具体情况选择合适的方法。

以上就是泽攸科技小编分享的扫描电镜高倍率下的电荷积累效应解决方法。更多扫描电镜信息及价格请咨询15756003283(微信同号)

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作者:泽攸科技