SEM扫描电镜SEM和TEM电子扫描电镜都是常用的电子显微镜，但它们的工作原理、样品制备要求和应用领域有所不同。

SEM主要是利用电子束和样品表面的相互作用，通过扫描探头和样品之间的距离来获取样品表面的形貌和显微结构，以及材料表面成分和结构的信息。SEM具有高深度分辨率、大视野和强大的成分分析能力，因此在材料科学、生物学、地质学、纳米科学等领域得到了广泛应用。

TEM则是将电子束穿过样品内部的薄片，通过样品中传递的电子与样品中原子、分子的相互作用，来获取样品内部的微观结构信息。TEM具有非常高的分辨率，可以解析出非常小的细节结构，适用于材料科学、物理学、生物学等领域的研究。

相对于SEM，TEM对样品制备的要求更高，需要制备出高质量的薄片样品，并且需要进行高真空操作。同时，TEM在成分分析方面的能力比SEM差一些。

ZEM15台式扫描电子显微镜

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