扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope, SEM）和透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）都是电子显微镜的类型，它们的主要区别在于电子束的传输方式和成像方式。

SEM中的电子束通过一系列电磁透镜被聚焦到样品表面，样品与电子束相互作用产生的信号被检测和处理，形成图像。SEM常用于表面形貌分析、元素分析等领域。

而TEM中的电子束通过样品透过薄片，被聚焦到一个透明的荧光屏或摄像机上，样品内部结构的透射像被捕捉并形成图像。TEM常用于观察样品内部结构，如晶体结构、生物分子等。

台式扫描电镜

总的来说，SEM适用于观察大体积样品表面形貌和表面成分分析，TEM则适用于观察样品内部结构和成分分析。

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