扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种利用电子束与样品相互作用，获得高分辨率的显微成像的仪器。其原理可以简单描述如下：

电子源发射出电子束，经过一系列的透镜系统进行聚焦，使得电子束成为一个极细的束。

电子束与样品相互作用，产生各种信号，如二次电子、反射电子、散射电子等。

收集并处理这些信号，形成样品的图像。

其中，二次电子是主要的信号，它们是由于电子束与样品表面原子相互作用而发射出来的。收集和处理二次电子信号可以获得样品的表面形貌和微观结构信息。

扫描电子显微镜在成像时，需要对样品进行导电处理，以保证电子能够在样品表面上流动，而不是被样品表面电荷所阻挡。常见的导电处理方法包括金属涂层、碳薄膜涂层、真空镀膜等。

台式扫描电镜

总的来说，扫描电子显微镜利用电子束与样品相互作用，通过收集并处理二次电子信号，获得样品表面的高分辨率图像。

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