扫描电镜模式有哪些
日期:2023-04-24
扫描电镜主要有以下几种模式:
扫描电子显微镜(SEM)模式:主要用于表面形貌、微观形貌、成分分析等方面的检测和分析。
透射电子显微镜(TEM)模式:主要用于观察材料的晶格结构、原子排列、微观组织等方面的分析。
原子力显微镜(AFM)模式:主要用于表面形貌、微观形貌、纳米材料等方面的检测和分析。
荧光光谱显微镜模式:主要用于材料的表面性质、光学特性等方面的分析。
此外,还提供一系列配套的分析服务,如元素分析、粒径分布、形貌分析、结晶形态分析等,以满足不同领域的客户需求。
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作者:泽攸科技
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