SEM（扫描电子显微镜）的放大倍数可以非常高，可以达到数百万倍甚至上千万倍。放大倍数取决于所使用的SEM仪器的类型、工作模式和目标样品的特性。通常，SEM的放大倍数分为两种类型：低放大和高放大。

低放大倍数范围一般在几十倍到数千倍之间，主要用于样品的外观表面形貌观察和分析，如观察材料表面的微观结构、纹理、粗糙度等。

高放大倍数可以达到数十万倍或以上，主要用于纳米级别的成像和分析，例如纳米结构、晶体缺陷、表面形貌、材料化学组成等。在高放大倍数下，可以通过SEM的EDS（能谱分析）或者EBSD（电子背散射衍射）技术来确定样品的元素组成或晶体结构。

台式扫描电镜

需要注意的是，放大倍数只是SEM分析的一个指标，SEM分析还可以使用其他技术和参数，如扫描速度、分辨率、信噪比等。不同的应用和实验要求会需要不同的SEM工作模式和参数设置。

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