扫描电镜的使用方法及注意事项
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扫描电镜(SEM)是一种高分辨率的显微镜,可以用于对固体、液体等样品进行观察和分析。下面是SEM的使用方法:
样品制备:对于固体样品,通常需要将其表面处理,例如去除表面污染、涂覆导电膜等。对于液体样品,需要将其固化或冷冻处理,并放置在导电性好的载体上。
装载样品:将样品装载到SEM的样品台上,并使用夹具或粘贴剂固定样品。
调节SEM参数:根据样品特性,调节SEM的加速电压、电子束聚焦、信号检测参数等。
开始观察:使用SEM的操纵台,将电子束扫描到样品表面,并观察样品的显微图像。可以使用不同的检测模式,例如反射电子显微镜(Backscattered Electron,BSE)和二次电子显微镜(Secondary Electron,SE)等。
分析样品:通过SEM观察和分析样品的形貌、结构和成分等信息。可以使用不同的分析技术,例如能谱分析(Energy-dispersive X-ray spectroscopy,EDS)和电子背散射衍射(Electron Backscatter Diffraction,EBSD)等。
保存数据:将观察和分析得到的数据保存到计算机或其他储存介质中,并进行数据处理和分析。
注意事项:
SEM使用过程中需要保持样品和SEM的干燥和真空环境,以避免样品受潮或SEM受污染。
SEM操作需要进行培训和授权,遵守SEM使用安全规范。
在操作SEM过程中,需要避免对SEM设备和样品造成损坏。
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作者:泽攸科技
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